安普檢測(cè)*致力于為多領(lǐng)域客戶提供一站式檢測(cè)服務(wù)及綠色解決方案，憑借準(zhǔn)確、高效、專業(yè)的檢測(cè)服務(wù)，協(xié)助企業(yè)全面提升產(chǎn)品品質(zhì)！

質(zhì)量方針：

本公司的質(zhì)量方針聲明為：公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效

行為公正：——不受來自商業(yè)、財(cái)務(wù)等其它方面的干預(yù)和其他內(nèi)部和外部的行政壓力，確保檢測(cè)行為的公正性；

方法科學(xué)：——遵守國家有關(guān)法律、法規(guī)，依據(jù)規(guī)程、規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)，選用*的檢測(cè)設(shè)備，確保檢測(cè)方法的科學(xué)性；

數(shù)據(jù)準(zhǔn)確：——報(bào)告應(yīng)準(zhǔn)確無誤，不得有數(shù)據(jù)或結(jié)論性差錯(cuò)，其他方面的差錯(cuò)要降到低限度，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性；

工作高效：——提前或按時(shí)完成檢測(cè)任務(wù)，在規(guī)定的時(shí)限內(nèi)出具檢測(cè)報(bào)告

無損探傷主要檢測(cè)項(xiàng)目：

射線照相法（RT） 
是指用X射線或γ射線穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無損檢測(cè)方法，該方法是基本的，應(yīng)用廣泛的一種非破壞性檢驗(yàn)方法。根據(jù)暗室處理后的底片各處黑度差來判別缺陷。

超聲波檢測(cè)（UT）
適用于金屬、非金屬和復(fù)合材料等多種試件的無損檢測(cè)；可對(duì)較大厚度范圍內(nèi)的試件內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)。缺陷定位較準(zhǔn)確，對(duì)面積型缺陷的檢出率較高；可檢測(cè)試件內(nèi)部尺寸很小的缺陷。

磁粉檢測(cè)（MT）
磁粉探傷適用于檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面尺寸很小、間隙極窄（如可檢測(cè)出長0.1mm、寬為微米級(jí)的裂紋）目視難以看出的不連續(xù)性；也可對(duì)原材料、半成品、成品工件和在役的零部件檢測(cè)，還可對(duì)板材、型材、管材、棒材、焊接件、鑄鋼件及鍛鋼件進(jìn)行檢測(cè)，可發(fā)現(xiàn)裂紋、夾雜、發(fā)紋、白點(diǎn)、折疊、冷隔和疏松等缺陷。

滲透檢測(cè)（PT）
滲透檢測(cè)可檢測(cè)各種材料，金屬、非金屬材料；磁性、非磁性材料；焊接、鍛造、軋制等加工方式；具有較高的靈敏度（可發(fā)現(xiàn)0.1μm寬缺陷）。