Mecwins
SCALA掃描式激光分析儀是模塊式的。包括一個光學掃描器，安裝于溫度濕度都可控的腔室里。基本配置可實現(xiàn)二維輪廓的靜態(tài)特征，及通過熱噪聲和單點測量來確定的諧振頻率。除了基本配置，SCALA還可配備如下三個工作模塊：
動態(tài)模塊
動態(tài)模塊可以測量任何振動器件的全譜響應，無論是依靠熱激勵或者是外力激勵（壓電驅動）。SCALA同時能提供機械振動的實時成像。如:機械傳感器的動態(tài)特性可以用一個簡單且用戶友好的方式測得。
液體測量模塊
SCALA 可以靜態(tài)或者動態(tài)地表征處于液體環(huán)境中的MEMS傳感器。測量腔的大小可根據(jù)用戶要求定制。PEEK液體樣品池設有液體進口和出口可以通過您選擇的外部傳輸系統(tǒng)實現(xiàn)液體的流動
(3D)三維成像模塊
利用激光掃描功能，可測量反射率和在z軸方向亞納米精度的三維表面形貌圖。
Mecwins 掃描式激光分析儀特點：
靜態(tài)和動態(tài)都可測量
非接觸式測量，可測液體環(huán)境下的物質，且靜態(tài)和動態(tài)都可測量
不需要特別的反射率，對于幾乎透明的材料都能獲得很好的測量結果，如SU8膠。
可專門針對研究納米機械傳感器，如懸臂梁，橋，薄膜等
無需聚焦得到圖像，可測不平度比較大的表面。
基于Labview的用戶友好性軟件
基于反射強度模式識別算法的TRACKER技術讓表征變得簡單與AMF對比：
Z方向與AFM一樣，都能獲得亞納米分辨率
在水平方向的分辨率不如AFM，SCALA只能達到微米分辨率，但可測大面積樣片
與輪廓儀對比：
輪廓儀測不了動態(tài)特性及液體環(huán)境，且它需要高反射率。
與白光干涉儀對比：
白光干涉儀測量快，分辨率高，但得不到動態(tài)特性，當樣品表面不平度比較大時，白光干涉儀無法聚焦。SCALA無需聚焦，可測大面積樣片。
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半導體/微納，光電/光學 產品主要有： 德國ParcanNano 針尖/電子束光刻機（Nano analytik）, 紫外光刻機，激光直寫光刻機，雙光子微納3D打印機（飛秒激光直寫儀），英國Durham 無掩膜激光光刻機，瑞士NanoFrazor 3D 微納直寫機，德國Sentech 刻蝕機, 鍍膜機及ALD，英國HHV真空鍍膜機，微波離子沉積機MPCVD，芬蘭Picosun原子層沉積機，日本及德國電子顯微鏡, 德國Bruker布魯克光譜儀, 美國Thermo Fisher賽默飛光譜/色譜/質譜/波譜儀，美國Sonix超聲波顯微鏡, 德國耐馳Netzsch熱分析儀, 德國Optosol吸收率發(fā)射率檢測儀, 日本SEN UV清洗機/UV清洗燈，美國Jelight紫外清洗機/紫外燈管，德國Diener等離子清洗機等*技術產品.
清洗機，分析儀，測量儀
| 產品種類 | 便攜 |
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掃描式激光分析儀 產品信息
