結合光鏡和電子顯微鏡來描述和分類粒子。
相關粒子分析(CAPA)可以在較短的時間內獲得更多的信息。
通過結合光鏡和電子顯微鏡，你釋放了兩個系統(tǒng)的全部性能。
分析粒子使用你的電動光學顯微鏡:Axio Zoom。
V16和Axio成像儀。
Z2m提供了顆粒數(shù)量、尺寸分布、形貌和顏色的信息。
通過偏振對比，可以區(qū)分金屬和非金屬粒子。
然后在你的電子顯微鏡中識別出臨界粒子并重新定位它們。
用x射線能譜儀(EDS)自動測定了粒子的物質組成。
光鏡和電子顯微鏡分析的結果將合并在一份報告中。
根據(jù)您的需求配置
顯微鏡
光學顯微鏡:Axio Zoom。
V16 Axio成像儀。
Z2m電子顯微鏡:EVO, Sigma, MERLIN, GeminiSEM
軟件
AxioVision
軟件模塊:ZEISS相關粒子分析儀(CAPA)和MosaiX
SmartSEM
SmartPI
配件
樣品支架為47毫米或50毫米顆粒過濾器適配器板
校準標志
可選適配器框架
簡單。更聰明。更多的集成。
?描述過程關鍵粒子和識別殺手粒子。
首先用你的光學顯微鏡捕獲粒子，然后再用你的電子顯微鏡和EDS分析找到它們
材料組成的信息。
?capa自動為您提供一份報告，該報告集成了您的光鏡和電鏡分析結果。
?畫廊和評估視圖提供了一個快速的概述
所有粒子類型:反射，非反射和纖維。
查看所有分類和ISO代碼一目了然。
?點擊一個按鈕，選擇并重新定位有趣的粒子。
?與背靠背進行光和電子顯微鏡分析相比，您的結果可獲得*達10倍的速度。
為您的應用程序創(chuàng)建
?潔凈度分析確保正常功能，并驗證部件的潔凈度。
?分析油液和制動液中的顆粒大小從2 μm到
防止過濾器、噴嘴和閥門污垢，以及油老化、裂縫、泄漏或泵故障。
?使用EDS分析，自動確定多達200個*大的顆?；蚨噙_200個顆粒的化學組成在選定的尺寸范圍。
蔡司工業(yè)測量技術部是生產(chǎn)和供應多維測量實驗室、數(shù)控三坐標測量機和解決方案。在四個國家設立生產(chǎn)基地和 100 多個銷售和服務點，一共擁有 2,4000 名員工。蔡司所提供的產(chǎn)品包括橋式、懸臂、龍門式和在線測量機，用于三維的光學和接觸式測量機和用于工業(yè)質量保證的電腦斷層掃描技術。所有相關的模塊，例如控制器、軟件、測量系統(tǒng)和探頭測針，都在公司內部進行開發(fā)和制造。它讓您能夠經(jīng)濟實惠地進入蔡司的掃描世界。在其光學和接觸式測量系統(tǒng)之外，蔡司又為三坐標測量技術增加了圖像處理的應用范圍。協(xié)同效應造就了光學傳感器和優(yōu)化的軟件。圖像處理軟件被集成到以 CAD 為基礎的 Calyspo 測量軟件中，使得測量系統(tǒng)既能進行光學測量，也能進行接觸式測量。具有良好兼容性的 CALYPSO 軟件庫，使得蔡司測量技術的用戶能夠執(zhí)行幾乎所有的測量任務。我們提供的產(chǎn)品以及全面的客戶服務 － 合約測量，電腦斷層掃描技術檢測和在線支持確保了機器的良好運行狀態(tài)。身處面向未來的重要行業(yè)，作為富有創(chuàng)意的產(chǎn)品和服務提供商，蔡司工業(yè)測量儀器部不斷攀登科技高峰，為測量行業(yè)提供值得信賴的三坐標測量設備和測量解決方案。
蔡司顯微鏡Correlative Cleanliness Analysis 產(chǎn)品信息
