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芯片防靜電能力檢測(cè)

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公司名稱上海華測(cè)品標(biāo)檢測(cè)技術(shù)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/10/31 14:40:35
訪問次數(shù)192

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公司介紹主營產(chǎn)品

華測(cè)檢測(cè)認(rèn)證集團(tuán)股份有限公司（英文"Centre Testing International Group Co., Ltd."，簡(jiǎn)稱"CTI"），是一家集檢測(cè)、校準(zhǔn)、檢驗(yàn)、認(rèn)證及技術(shù)服務(wù)為一體的綜合性第三方機(jī)構(gòu)，在大部分國家范圍內(nèi)為企業(yè)提供一站式解決方案。

CTI成立于2003年，總部位于深圳，在全國設(shè)立了六十多個(gè)分支機(jī)構(gòu)，擁有化學(xué)、生物、物理、機(jī)械、電磁等領(lǐng)域的近130個(gè)實(shí)驗(yàn)室，并在寶島、香港、美國、英國、新加坡等地設(shè)立了海外辦事機(jī)構(gòu)。2009年10月30日，CTI成功在深交所掛牌上市，股份公司憑證代碼：300012。

基于遍布大部分國家的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)和深厚的服務(wù)能力，CTI每年可出具約150萬份具有公信力的檢測(cè)認(rèn)證報(bào)告，服務(wù)客戶9萬家，其中世界500強(qiáng)客戶逾百家。CTI集團(tuán)及各分子公司在各領(lǐng)域可為客戶提供檢測(cè)、檢驗(yàn)、認(rèn)證、審核、培訓(xùn)、鑒定、咨詢等服務(wù)：

消費(fèi)品：有害物質(zhì)檢測(cè)，可靠性與失效分析，金屬材料檢測(cè)，非金屬材料分析，紡織品、鞋類、箱包檢測(cè)，玩具、嬰童產(chǎn)品、學(xué)習(xí)用品、家具、餐廚具等食品接觸材料及雜貨檢測(cè)；

工程：建材與工程檢測(cè)、檢驗(yàn)及認(rèn)證，特種設(shè)備無損檢測(cè)，風(fēng)電機(jī)組檢測(cè)及監(jiān)造；

環(huán)境：環(huán)境檢測(cè)與咨詢，環(huán)境污染治理設(shè)施運(yùn)行，污染源在線監(jiān)控設(shè)施委托運(yùn)行等；

電器/工業(yè)品：安規(guī)檢測(cè)，EMC檢測(cè)，CCC認(rèn)證，CB測(cè)試，國內(nèi)國際貿(mào)易貨物檢測(cè)鑒定評(píng)估，有害生物管理，計(jì)量校準(zhǔn)、尺寸測(cè)量及儀器維修及相關(guān)領(lǐng)域檢測(cè)分析；

食品/農(nóng)產(chǎn)品/?；?/span>：食品、藥品、日化產(chǎn)品、農(nóng)產(chǎn)品、保持健康品、飼料、食品包裝和接觸材料檢測(cè)及認(rèn)證，工業(yè)化學(xué)品、農(nóng)藥等測(cè)試評(píng)價(jià)；

交通運(yùn)輸：汽車整車及其零部件檢測(cè)，金屬分析，船舶及工程，貨物適運(yùn)鑒定；

醫(yī)學(xué)/生命安全：分子及遺傳因子檢測(cè)、診斷，藥效、毒理學(xué)，生物分析，職業(yè)安全衛(wèi)生，健康體檢，健康器械代理、注冊(cè)、咨詢；

其他技術(shù)服務(wù)：驗(yàn)貨與合規(guī)服務(wù)，審核服務(wù)，體系咨詢，產(chǎn)品認(rèn)證，能力驗(yàn)證，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研發(fā)和銷售，法律法規(guī)注冊(cè)/咨詢，化學(xué)品、食品、消費(fèi)品等法規(guī)咨詢和產(chǎn)品注冊(cè)，培訓(xùn)等等。

2013年，CTI成為歐盟NB認(rèn)證機(jī)構(gòu)；2015年，CTI入圍國家強(qiáng)制性產(chǎn)品認(rèn)證（CCC）認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室；同年，新加坡華測(cè)成為發(fā)證/認(rèn)可NCB，深圳實(shí)驗(yàn)室獲得CBTL資質(zhì)。CTI是中國合格評(píng)定認(rèn)可委員會(huì)（CNAS）認(rèn)可的實(shí)驗(yàn)室和中國質(zhì)量認(rèn)證中心（CQC）的合作實(shí)驗(yàn)室，同時(shí)通過了計(jì)量認(rèn)證（CMA），*具備出具第三方檢測(cè)報(bào)告的資質(zhì)。除了通過國內(nèi)的認(rèn)可以外，CTI還通過了英國UKAS，美國ANSI、美國"能源之星"、新加坡SPRING等機(jī)構(gòu)的認(rèn)可，是美國消費(fèi)者委員會(huì)（CPSC）、美國UL、美國FCC、加拿大IC、墨西哥NYCE、挪威NEMKO、德國TUV、美國紡織品染化師協(xié)會(huì)（AATCC）、美國WRAP等國際有地位機(jī)構(gòu)認(rèn)可合作的實(shí)驗(yàn)室，檢測(cè)報(bào)告具有國際公信力。

展開顯示更多內(nèi)容

SGS報(bào)告，產(chǎn)品檢測(cè)，阻燃測(cè)試，失效分析，成分分析，鹽霧腐蝕試驗(yàn)，光老化測(cè)試，殘余應(yīng)力，無損探傷，可靠性測(cè)試，EMC測(cè)試，rohs檢測(cè)，reachSVHC測(cè)試，生物降解，MSDS報(bào)告

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

芯片靜電防護(hù)能力ESD測(cè)試是半導(dǎo)體產(chǎn)品先期質(zhì)量驗(yàn)證的重要關(guān)鍵指針，CTI華測(cè)檢測(cè)已通過CNAS/ISO17025/ISO9001資質(zhì)認(rèn)可，ANSI/ESD S20.20靜電防護(hù)體系認(rèn)證?？蔀槟峁┬酒漓o電能力測(cè)試，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效、保密運(yùn)轉(zhuǎn)。

芯片防靜電能力檢測(cè) 產(chǎn)品信息

業(yè)務(wù)挑戰(zhàn)

為什么芯片需要防靜電

靜電是環(huán)境中的自然現(xiàn)象，是電荷在物體中的不平衡分布的一種現(xiàn)象。物體帶電后，電荷會(huì)保持在物體上，故稱為靜電。靜電積累之后，當(dāng)物體電位不同，電荷通過瞬間電流發(fā)生轉(zhuǎn)移的過程即為放電。

半導(dǎo)體產(chǎn)品具有非常細(xì)小的線路，為了避免芯片在生產(chǎn)或使用過程中被靜電放電所損傷，在集成電路內(nèi)皆有制作靜電放電防護(hù)電路。隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)*制程發(fā)展推進(jìn)，芯片尺寸不斷縮小，ESD耐壓能力是否同步提升，在靜電防護(hù)的能力上也備受挑戰(zhàn)，ESD測(cè)試是半導(dǎo)體產(chǎn)品先期質(zhì)量驗(yàn)證的重要關(guān)鍵指針。

CTI華測(cè)檢測(cè)已通過CNAS/ISO17025/ISO9001資質(zhì)認(rèn)可，ANSI/ESD S20.20靜電防護(hù)體系認(rèn)證?？蔀槟峁┬酒漓o電能力測(cè)試，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效、保密運(yùn)轉(zhuǎn)。

芯片防靜電能力測(cè)試

? 芯片放電模擬測(cè)試

━ 模擬因人體在地上走動(dòng)磨擦或其他因素，在人體上已累積了靜電，當(dāng)此人去碰觸到芯片時(shí)，人體上的靜電便會(huì)經(jīng)由芯片的pin腳進(jìn)入芯片內(nèi)，再經(jīng)由芯片放電到地去，瞬間產(chǎn)生的電流可能造成芯片的損毀。

━ 模擬機(jī)器設(shè)備本身累積了靜電，當(dāng)此機(jī)器去碰觸到芯片時(shí)，該靜電便經(jīng)由芯片的pin腳放電。因機(jī)械等效電阻為0奧姆，因此瞬間產(chǎn)生的電流更大，對(duì)芯片的破壞力也強(qiáng)。

━ 芯片先因磨擦或其他因素而在內(nèi)部累積了靜電，但在靜電累積的過程中并未被損傷。當(dāng)此帶有靜電的芯片在使用時(shí)，其pin腳碰觸到接地面時(shí)，芯片內(nèi)部的靜電便會(huì)經(jīng)由pin腳自芯片內(nèi)部流出來，而造成了放電的現(xiàn)象。

━ 瞬間電流被鎖定或者放大，而造成芯片在電源與對(duì)地之間造成短路，而因?yàn)榇箅娏鲹p傷芯片。由于目前半導(dǎo)體電路設(shè)計(jì)密度越來越高，電壓或電流的瞬間變化對(duì)于芯片的損傷也越趨嚴(yán)重。

適用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) : 協(xié)助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
適用產(chǎn)品范圍: 集成電路芯片、晶體管、MOS管…等。
常規(guī)樣品要求: 以具體標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

? 檢測(cè)項(xiàng)目

━ 人體靜電測(cè)試 (HBM，Human Body Model)
━ 機(jī)械靜電測(cè)試 (MM，Machine Model)
━ 充電放電測(cè)試 (CDM，Charged Device Model)
━ 閂鎖效應(yīng)(Latch-up)
━ 傳輸線脈沖(TLP，Transmission Line Pulse)