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低氣壓可靠性試驗(yàn)

參考價	￥ 220
訂貨量	≥1件

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)（深圳）有限公司
品牌優(yōu)爾鴻信
型號
所在地成都市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/12/18 10:36:30
訪問次數(shù)560

產(chǎn)品標(biāo)簽:

低氣壓測試高空測試環(huán)境可靠性測試電子電器可靠性測試

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公司介紹主營產(chǎn)品

優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)有限公司（富士康華南檢測中心），成立于1996年，主要從事3C產(chǎn)品類測試與驗(yàn)證、汽車零部件檢測，環(huán)境可靠性測試,材料檢測、尺寸測量與驗(yàn)證、有毒有害物質(zhì)檢測及計(jì)量校準(zhǔn)服務(wù)，并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。
現(xiàn)設(shè)立有十二大功能實(shí)驗(yàn)室，主要檢測設(shè)備共4300余臺(套) ，各類專業(yè)實(shí)驗(yàn)室22個，專業(yè)檢測技術(shù)及管理人員1600余名，形成了專業(yè)、綜合性檢測/校準(zhǔn)中心，是專業(yè)、客觀、公正的第三方專業(yè)檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)之一。
2003年得中國合格評定國家認(rèn)可委員會實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書（CNAS）并按照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025：2005《檢測和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行，2018年取得CMA資質(zhì)。

已完善的實(shí)驗(yàn)室:
環(huán)境可靠性(氣候環(huán)境、機(jī)械環(huán)境、包裝運(yùn)輸、HALT、噪音)；

金屬材料檢測（清潔度檢測、成分、金相、力學(xué)性能、端口、鍍層及失效分析）；

塑料檢測（成分、熱學(xué)性能、力學(xué)性能、物理性能及失效分析）；
電子產(chǎn)品管控物質(zhì)（RoHS、鹵素等）；
尺寸檢測(尺寸測量、3D掃描、逆向工程)；
校準(zhǔn)(長度、質(zhì)量、熱學(xué)、力學(xué)、電量)；
SMT實(shí)驗(yàn)室（紅墨水試驗(yàn)、切片試驗(yàn)、超聲波掃描、離子清潔度等）；
移動產(chǎn)品(手機(jī)、PAD等)壽命驗(yàn)證等

展開顯示更多內(nèi)容

清潔度檢測，環(huán)境可靠性測試，金屬材料檢測，尺寸測量，塑料成分分析，成都檢測中心，第三方檢測，汽車零部件檢測，電子電氣檢測

產(chǎn)品簡介在線詢價

低氣壓可靠性試驗(yàn)的主要目的是確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用中對低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。

低氣壓可靠性試驗(yàn) 產(chǎn)品信息

低氣壓可靠性試驗(yàn)是一種重要的環(huán)境適應(yīng)性測試，旨在評估產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下的性能、可靠性和適應(yīng)性，以確保產(chǎn)品在高原環(huán)境下能夠正常工作。
低氣壓可靠性試驗(yàn)則用于驗(yàn)證組件、裝備或其他產(chǎn)品在常溫低壓環(huán)境、低溫低壓復(fù)合環(huán)境、高溫低壓復(fù)合環(huán)境和高低溫低壓復(fù)合環(huán)境下的儲存、運(yùn)輸和使用能力。試驗(yàn)的嚴(yán)格程度取決于溫度、氣壓和暴露持續(xù)時間等因素。

低氣壓對產(chǎn)品的影響

1.低壓會對密封產(chǎn)品外殼產(chǎn)生一個壓力，可能破壞產(chǎn)品密封性。

2.氣壓降低導(dǎo)致大氣密度的降低及空氣的平均自由度增大，會影響產(chǎn)品性能。

3.低壓會造成產(chǎn)品溫升升高，散熱性能降低。

4.低壓會有可能會產(chǎn)生電暈現(xiàn)象。

低氣壓可靠性試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：

環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分：試驗(yàn)M:低氣壓 IEC 60068-2-13:1983

環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分：試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓復(fù)合試驗(yàn) IEC60068-2-40:1976(1983)

環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分：試驗(yàn)Z/BM:干熱/低氣壓復(fù)合試驗(yàn) IEC60068-2-41:1976(1983)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)M：低氣壓 GB/T

2423.21-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2 部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM：低溫/低氣