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一、設(shè)備用途：
適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；半導體、精密組件、零件接腳氧化試驗.
二、主要技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號： HE-ZQ-5417
內(nèi)部尺寸： 500×400×170（W×H×D）mm；
外部尺寸： 600×500×420（W×H×D）mm
內(nèi)外箱材質(zhì)： SUS304#優(yōu)質(zhì)不銹鋼板
控制功能： PID+SSR，數(shù)字式顯示
升溫時間： 大約40分鐘，
蒸氣溫度： ≥97℃
計時功能： 1～9999H/M/S，附時到報警功能，時間到達后切斷電源
水位控制： 低水位報警功能
電源： AC 220V±10% 50Hz 1.0KW
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