低溫貯存試驗(yàn)是一種重要的環(huán)境適應(yīng)性檢驗(yàn)方法，主要用于評(píng)估產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下的貯存性能。在我國(guó)，中科檢測(cè)作為一家專業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)，提供低溫貯存試驗(yàn)服務(wù)，并已獲得CMA(中國(guó)計(jì)量認(rèn)證)和CNAS(中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì))的資質(zhì)認(rèn)證。
一、試驗(yàn)?zāi)康?/strong>
低溫貯存試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下的貯存適用性，確保產(chǎn)品在斷電狀態(tài)下，經(jīng)過(guò)低溫環(huán)境貯存后，各項(xiàng)性能指標(biāo)仍能保持正常，從而為產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的可靠性和穩(wěn)定性提供有力保障。
二、試驗(yàn)方法
試驗(yàn)準(zhǔn)備：將被測(cè)產(chǎn)品不進(jìn)行包裝，保持不通電狀態(tài)，以正常使用位置放入試驗(yàn)箱內(nèi)。
溫度設(shè)置：將試驗(yàn)箱溫度調(diào)整至-20±2℃，待溫度穩(wěn)定后，持續(xù)16小時(shí)。
試驗(yàn)過(guò)程：在試驗(yàn)箱內(nèi)，被測(cè)產(chǎn)品在低溫環(huán)境下持續(xù)貯存16小時(shí)。期間，試驗(yàn)箱溫度需保持穩(wěn)定。
恢復(fù)過(guò)程：試驗(yàn)期滿后，將試驗(yàn)箱門打開(kāi)，在正常大氣條件下放置2小時(shí)，使被測(cè)產(chǎn)品逐漸恢復(fù)至室溫。
試驗(yàn)后檢查：放置期滿后，對(duì)被測(cè)樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后的檢查，觀察產(chǎn)品外觀、結(jié)構(gòu)、性能等方面是否正常。
三、試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 32065.3-2015《海洋儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：低溫貯存試驗(yàn)》：該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了海洋儀器低溫貯存試驗(yàn)的方法和要求，適用于海洋儀器的低溫貯存性能檢驗(yàn)。
GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》：該標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品低溫環(huán)境試驗(yàn)，包括低溫貯存試驗(yàn)。
IEC60068-2-1：2007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：低溫》：該標(biāo)準(zhǔn)為國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)發(fā)布的低溫環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，適用于全球范圍內(nèi)的電工電子產(chǎn)品。
GJB150.4A-2009《裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)》：該標(biāo)準(zhǔn)適用于裝備的低溫環(huán)境試驗(yàn)，包括低溫貯存試驗(yàn)。
通過(guò)以上低溫貯存試驗(yàn)，可以有效檢驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的貯存性能，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和使用提供重要參考依據(jù)。中科檢測(cè)憑借豐富的試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)和先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備，為您提供專業(yè)、可靠的低溫貯存試驗(yàn)服務(wù)。
