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【網(wǎng)絡(luò)專題研討會(huì)】電子元器件失效分析及案例分享
電子元器件失效分析及案例分享
◆發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品失效問(wèn)題的“千里眼”
在電子技術(shù)飛速發(fā)展的今天，一顆微小的電子元器件，往往承載著智能設(shè)備的核心功能，但功能失效時(shí)可能成為整個(gè)系統(tǒng)崩潰的引導(dǎo)問(wèn)題并造成損失。在這種情況下，我們需要對(duì)其進(jìn)行失效分析，電子元器件失效分析便是我們發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的“千里眼”。
◆失效≠報(bào)廢，科學(xué)分析能夠找出問(wèn)題降低損失
電子元器件失效：因內(nèi)部或外部環(huán)境因素，導(dǎo)致其電學(xué)特性或物理、化學(xué)性能降低至不能滿足規(guī)定要求的狀態(tài)。
引起失效的原因多種多樣，主要有以下幾類：1.材料、設(shè)計(jì)、工藝；2.環(huán)境應(yīng)力；3.時(shí)間等。為了減少因產(chǎn)品失效導(dǎo)致?lián)p失，建議在電子元器件失效時(shí)，對(duì)其進(jìn)行專業(yè)的失效分析并找出失效原因，利于產(chǎn)品改進(jìn)及優(yōu)化。
◆規(guī)范的檢測(cè)流程與方法搭配先進(jìn)的檢測(cè)儀器為產(chǎn)品質(zhì)量保駕護(hù)航
常用的失效分析流程：第一步對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行信息和數(shù)據(jù)收集；第二步對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)；第三步試驗(yàn)實(shí)施；第四步結(jié)果分析和驗(yàn)證；第五步進(jìn)行結(jié)果總結(jié)和報(bào)告整理。
常用的分析方法：外觀檢查、功能檢測(cè)、X-RAY檢測(cè)、超聲波檢測(cè)、切片研磨、開(kāi)封檢測(cè)、OBIRCH檢測(cè)、EMMI檢測(cè)、Delayer檢測(cè)、聚焦離子束FIB等。
常用的分析設(shè)備：3D顯微鏡、特性曲線儀、示波器、X-RAY檢測(cè)儀、超聲波掃描儀、電子掃描電鏡等。
◆線上互動(dòng)，共解難題
2025年4月16日，優(yōu)爾鴻信開(kāi)展“電子元器件失效分析及案例分享”網(wǎng)絡(luò)專題研討會(huì)，邀請(qǐng)了劉建錦講師，在線詳細(xì)介紹電子元器件的失效分析及相關(guān)案例分享，并即時(shí)為您答疑解惑。
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