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X射線熒光分析儀的原理
當樣品被初級 X 射線照射時,電子被 X 射線的能量翻轉(zhuǎn),原子被激發(fā)。外層電子落到那里,發(fā)射出與能量差相對應(yīng)的熒光X射線。定性分析是可能的,因為此時產(chǎn)生的熒光 X 射線具有元素的能量。也可以從熒光 X 射線的強度進行定量分析。
X射線熒光分析儀的運用
土壤中的重元素分析
焚燒灰、工業(yè)廢物、廢水、粉塵、電鍍液、污泥
RPF、礫石、爐渣等的分析
電子零件中有害重金屬的測量
半導(dǎo)體和磁盤的薄膜厚度測量
電極多層厚度和結(jié)構(gòu)分析
電子零件鍍層厚度和結(jié)構(gòu)的分解
礦石勘探
粘土礦物、土壤、巖石和回收材料的分析
分析果樹和煙草等植物的葉子
鋼鐵、有色金屬
冶煉渣分析
焊錫、貴金屬、合金、有色金屬的主要成分雜質(zhì)分析
催化劑和涂料的分析
重油中 S、V 和重金屬的分析
潤滑油中添加元素分析
顏料和防銹劑的成分分析
醫(yī)藥原料、中間產(chǎn)品、成品分析
材料/零件材料的判別分析
表面處理劑分析
表面膜厚測量
埋藏文物和黑曜石的 Sr/Rb 分析
評估珠寶、繪畫和藝術(shù)品
貴金屬配件分析
探索機場和海關(guān)
法醫(yī)判斷分析
食品中異物及添加劑分析
食品容器的雜質(zhì)分析
陶瓷、水泥、玻璃和油漆的成分分析
打印機彩色墨水的管理與分析
塑料中的硅分析
磚和粘土的分析
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