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華東泰勒輪廓儀代理Form Talysurf PGI 840

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更新時間：2023-01-21 08:39:44瀏覽次數(shù)：254次

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產(chǎn)品簡介

FomTalysuriPG1840型粗糙度輪廓儀有一200mm水平行程的驅(qū)動箱，該驅(qū)動箱可沿立柱在450mm范圍內(nèi)垂直移動，以適應不同高度工件的測量。驅(qū)動箱內(nèi)帶有很高直線度精度的水平基準，以保證測量精度

詳細介紹

產(chǎn)品描述

FormTalysurf PG1840型粗糙度輪廓儀：

FomTalysuriPG1840型粗糙度輪廓儀有一200mm水平行程的驅(qū)動箱，該驅(qū)動箱可沿立柱在450mm范圍內(nèi)垂直移動，以適應不同高度工件的測量。驅(qū)動箱內(nèi)帶有很高直線度精度的水平基準，以保證測量精度。驅(qū)動箱下帶有PGI型傳感器，該傳感器具有大的量程和的分辨率。傳感器上帶有測針，測量時，測針在工量時，測針在工件表面接觸并水平方向移動，測針的上下擺動量通過傳感器傳入電箱和計算機，由計算機軟件進行分析，并將結果通過打印機進行打印。儀器各軸的移動可通過操縱桿或計算機控制。

精密加工機器，比如單點金剛石車床，使得對公差要求很小的非球面鏡頭的加工成為可能，波前相差也降低到微不足道的數(shù)值。為了獲得這種高水平的精度，必須有相應水準的計量。Form Talysurf PGI 840具有所需要的各種功能，該測量系統(tǒng)的測量結果可直接輸入到機床中，進而形成"反饋循環(huán)"?？蓱脩羲瓒O計特殊測針使得PGI 840的應用范圍更為廣大。

功能描述：

FormTalysurf PGl840型粗糙度輪廓儀是一臺英國泰勒霍普森公司生產(chǎn)的專門用于各種光學零部件表面的形狀誤差測量和粗糙度分析，包括:平面、球面、非球面以及衍射光學表面輪廓測量。其主要功能如下:
1、形狀誤差測量，包括非球面形狀誤差測量、直線形狀誤差(直線度)和圓弧。
2、輪廓測量，包括半徑和角度分析;
3、表面粗糙度測量。該系統(tǒng)具有與大多數(shù)光學加工設備接口能力的優(yōu)化處理可以將測量數(shù)據(jù)應用于加工設備

主要特點：

? 120 mm的驅(qū)動箱具有0.25 μm 120 mm 的直線度
? 8mm的量程，0.8nm的垂直分辨率
? 使用120mm長的測針臂量程可達到16mm
? 系統(tǒng)的低噪音（RMS 僅為2nm）為市場提供了的光學表面粗糙度的測量能力.

PGI 840 - 杰出的新一代儀器		PGI 840具有行業(yè)的規(guī)格
Form Talysurf在過去20年中不斷發(fā)展，為我們的客戶提供持續(xù)改進。 PGI 840 非球面測量系統(tǒng)為以下應用提供了新的性能水平： ?用于塑料或玻璃光學元件的金剛石車削或超精密磨削模具 ?用于激光應用的非球面鏡 ?數(shù)碼相機，投影儀等 ?紅外和衍射光學元件，直徑達120毫米		Form Talysurf PGI 840專為光學行業(yè)開發(fā)。制造的每個方面都達到了高水平，從而實現(xiàn)了優(yōu)秀的系統(tǒng)性能。 ?120mm驅(qū)動裝置，直線度0.25μm，120mm ?8mm量程，0.8nm垂直分辨率 ?120mm測針臂可實現(xiàn)16mm測量范圍 ?2nm RMS系統(tǒng)噪聲提供優(yōu)秀的光學表面光潔度測量功能 ?廣泛的可選配件，包括適用于要求苛刻的應用的測針
		非球面分析軟件
		Taylor Hobson推出的Aspherics分析軟件融合了許多專為滿足Aspherics Optics制造商的需求而設計的新功能，包括： ?Aspheric Form Analysis ?User Selectable Radius Optimisation and λs Filter ?Report Generation Capability ?SAG Tables ?Astigmatism Analysis ?Derived Coefficients Module (optional) ?Asphero-Diffractive Analysis (optional)
旨在滿足研究和生產(chǎn)需求
精密加工機器，比如單點金剛石車床，使得對公差要求很小的非球面鏡頭的加工成為可能，波前相差也降低到微不足道的數(shù)值。為了獲得這種高水平的精度，必須有相應水準的計量。Form Talysurf PGI 840 具有所需要的各種功能，該測量系統(tǒng)的測量結果可直接輸入到機床中，進而形成"反饋循環(huán)"?？蓱脩羲瓒O計特殊測針使得PGI 840 的應用范圍更為廣大。

PGI840規(guī)格：

水平性能
驅(qū)動長度	120 mm / 0.1 mm (4.7 in / 0.004 in)
測量速度	0.1 mm/s, 0.25 mm/s, 0.5 mm/s & 1 mm/s
驅(qū)動速度	10 mm/s max (0.39 in/s max)
x軸上的*小數(shù)據(jù)取樣間隔（高）	0.125 µm over 120mm length (5 µin over 4.7 in length)
x軸上的*小數(shù)據(jù)取樣間隔（標準）	0.125 µm [ 0.1 mm to 15 mm length ] ( 5 µin [0.004 in to 0.6 in] ) 0.25 µm [ 15 mm to 30 mm length ] ( 10 µin [0.60 in to 1.2 in] ) 1 µm [ 30 mm to 120 mm length] ( 40 µin [1.20 in to 4.7 in] )
traightnesserror[Pt](X = length) 2	250nm/120mm or [50 + 1.7X] nm (10µin/4.7in or [2 + 1.7X] µin)
垂直性能
標稱量程(Z)	8mm [ 60mm stylus arm] (0.31 in [2.36 in] ) 16mm [120mm stylus arm] (0.62 in [4.72 in] )
分辨率(Z) 3	0.8nm @ 8mm range (0.03 µin @ 0.31 in) range
量程與分辨率的比率	10,000,000 : 1
測針臂長度，針尖尺寸，測力	60mm arm, 2µm radius conisphere diamond stylus, 1mN force 120mm arm, 0.5mm radius ball, 20mN force
Z 軸非線性 (Z=傳感器位移)	(0.07 + 0.03 Z [mm] ) µm (3 + 30 Z [inches] ) µin - 校準后
Z軸示值重復性（平面-金剛石測針）	0.1 µm (4 µin)
Z軸示值重復性（曲面-金剛石測針）	0.08 µm (3 µin)
Z軸示值重復性（曲面-球形測針）	0.12 µm (4.5 µin)
標定pt	0.2μm (8μin)