當(dāng)前位置：上海百賀儀器科技有限公司>>掃描電鏡蔡司/FEI/日立/電子>>蔡司掃描電子顯微鏡

蔡司掃描電子顯微鏡

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號EVO MA 25/LS 25

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2023-03-21 16:43:06瀏覽次數(shù)：283次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  掃描電鏡蔡司/FEI/日立/電子

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

上海百賀儀器科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：842條

所在地區(qū)：

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

蔡司掃描電子顯微鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究

詳細介紹

蔡司掃描電子顯微鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

一、蔡司掃描電子顯微鏡EVO MA 25/LS 25技術(shù)參數(shù)

1、分辨率：2.0nm@30KV(SE with Lab6 option) 3.0nm@30KV(SE and W) 4.5nm@30KV(VP with BSD)

2、加速電壓：0.2—30KV

3、放大倍數(shù)：5—1000000x

4、視野范圍：6mm

5、X-射線參數(shù)：8.5mm WD，35度接收角

6、壓力范圍：10—400Pa (LS25-3000Pa)

7、工作室：420mm(φ)×330mm(h)

8、5軸試樣載物臺：X=130mm Y=130mm Z=50mm T=0-90°R=360°

9、試樣高度：210mm，試樣直徑：300mm

10、系統(tǒng)控制：基于Windows XP 的SmartSEM

二、蔡司掃描電鏡EVO MA 25/LS 25主要特點