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AO3320A差熱分析儀

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產品型號AO3320A

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更新時間：2023-02-07 09:36:04瀏覽次數：191次

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產品簡介

差熱分析儀是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。

詳細介紹

差熱分析儀
AO3320A差熱分析儀是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發(fā)，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。

差熱分析儀儀器特點：

1.儀器主控芯片采用Cortex-M3內核ARM控制器，運算處理速度更快，溫度控制更精確。

2.采用USB雙向通訊，操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD觸摸屏，界面更友好。

4.采用鎳鉻合金傳感器，更耐高溫、抗腐蝕、抗氧化。

差熱分析儀/差示掃描量熱儀技術參數:

1. 溫度范圍: 室溫~1150℃

2. 量程范圍: 0～±2000μV

3. DTA精度: 0.01μV

4. 升溫速率: 1～80℃/min

5. 溫度分辨率: 0.1℃

6. 溫度準確度: ±0.1℃