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天天雙單元電化學(xué)工作站LDX-CS2350

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半價(jià)優(yōu)惠雙單元電化學(xué)工作站雙恒電位儀電化學(xué)分析儀型號(hào)：LDX-CS2350LDX-CS2350雙單元電化學(xué)工作站是基于常規(guī)單通道系列CS350型發(fā)展而來(lái)，內(nèi)置兩套的恒電位/恒電流儀，每套恒電位儀各有一套輔助、工作和參比電輸出，并由Corrtest軟件來(lái)協(xié)調(diào)輸出電位/電流

詳細(xì)介紹

半價(jià)優(yōu)惠雙單元電化學(xué)工作站雙恒電位儀電化學(xué)分析儀
型號(hào)：LDX-CS2350

LDX-CS2350雙單元電化學(xué)工作站是基于常規(guī)單通道系列CS350型發(fā)展而來(lái)，內(nèi)置兩套的恒電位/恒電流儀，每套恒電位儀各有一套輔助、工作和參比電輸出，并由Corrtest軟件來(lái)協(xié)調(diào)輸出電位/電流。

LDX-CS2350工作時(shí)分主單元和從單元兩路，從單元采用浮地模式實(shí)現(xiàn)對(duì)第二工作電WEII的電位/電流控制。第二工作電電位可以保持在的恒定電位或電流值，也可實(shí)現(xiàn)于一工作電的線性掃描或循環(huán)伏案掃描等測(cè)試。

因此，LDX-CS2350除了具備單通道工作站的所有特點(diǎn)，還可用于電化學(xué)反應(yīng)中間產(chǎn)物的檢測(cè)。

典型應(yīng)用

①配合旋轉(zhuǎn)環(huán)盤(pán)電用于研究電化學(xué)氧化還原體系，在測(cè)量圓盤(pán)電化曲線的同時(shí)，控制圓環(huán)電于一個(gè)固定的化電勢(shì)，用以檢測(cè)圓盤(pán)電上產(chǎn)生的反應(yīng)中間物，該方法也成為檢測(cè)反應(yīng)中間物和研究電反應(yīng)機(jī)理的典型流體動(dòng)力學(xué)方法。

②金屬中氫擴(kuò)散測(cè)試，兩個(gè)恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski雙電解池，通過(guò)左側(cè)電解池的陰充氫和右側(cè)電解的氫原子陽(yáng)氧化電流測(cè)量，進(jìn)而計(jì)算氫原子在金屬中擴(kuò)散系數(shù)和氫通量。

硬件參數(shù)指標(biāo)

雙恒電位儀：?jiǎn)魏汶娢浑娢豢刂品秶?plusmn;10V 雙恒電位儀電位控制范圍:±10V	恒電流控制范圍：±2.0A
電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV	電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)
電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)	電流靈敏度：<10pA
電位上升時(shí)間：＜1μS(<10mA),＜10μS(<2A)	電流量程：2A～200nA, 共8檔
參比電輸入阻抗：10¹²Ω\|\|20pF	zui大輸出電流：2.0A
槽壓輸出：±21V	電流掃描增量：1mA @1A/mS
CV和LSV掃描速度：0.001mV～10000V/s	電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS
CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s	DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
SWV頻率：0.001～100KHz	CV的zui小電位增量：0.075mV
AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz	電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置
DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1μS	低通濾波器：8段可編程
通訊接口：USB2.0	儀器重量：6.5Kg
外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H)

電化學(xué)阻抗測(cè)量參數(shù)

信號(hào)發(fā)生器
頻率響應(yīng)：10μHz～1MHz	交流信號(hào)幅值：1mV～2500mV
頻率度：0.005%	信號(hào)分辨率：0.1Mv RMS
直流偏壓：-10V～+10V	DDS輸出阻抗：50Ω
波形：正弦波，三角波，方波	正弦波失真率：<1%
掃描方式：對(duì)數(shù)/線性，增加/下降
信號(hào)分析器
zui大積分時(shí)間：10⁶個(gè)循環(huán)或者10⁵S	測(cè)量時(shí)間延遲：0～10⁵秒
zui小積分時(shí)間：10mS 或者一個(gè)循環(huán)的長(zhǎng)時(shí)間
直流偏置補(bǔ)償
電位補(bǔ)償范圍：-10V～+10V	電流補(bǔ)償范圍：-1A～+1A
帶寬調(diào)整：自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置, 共8級(jí)可調(diào)

CS2350雙單元電化學(xué)工作站功能方法

功能方法		主單元	從單元	功能方法		主單元	從單元
穩(wěn) 態(tài) 化	開(kāi)路電位測(cè)量（OCP）	•	•	溶出伏安	恒電位溶出伏安	•
	恒電位化（i-t曲線）	•	•		線性溶出伏安	•
	恒電流化	•	•		階梯溶出伏安	•
	動(dòng)電位掃描（TAFEL曲線）	•	•		方波溶出伏安	•	•
	動(dòng)電流掃描（DGP）	•		交流阻抗	電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描	•	•
暫態(tài) 化	任意恒電位階梯波	•			電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描	•
	任意恒電流階梯波	•			電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線）	•
	恒電位階躍（VSTEP）	•			電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線）	•
	恒電流階躍（ISTEP）	•		腐蝕測(cè) 量	循環(huán)化曲線（CPP）	•	•
	快速電位脈沖	•			線性化曲線（LPR）	•	•
	快速電流脈沖	•			動(dòng)電位再活化法（EPR）	•
計(jì) 時(shí) 分析	計(jì)時(shí)電位法（CP）	•			電化學(xué)噪聲 (EN)	•
	計(jì)時(shí)電流法（CA）	•			電偶腐蝕測(cè)量 (ZRA)	•
	計(jì)時(shí)電流法（CA）	•			氫擴(kuò)散測(cè)試（HDT）*	•
	計(jì)時(shí)電量法（CC）	•		電池測(cè) 試	電池充放電測(cè)試	•	•
伏安分析	線性掃描伏安法（LSV）	•	•		電池充放電測(cè)試	•	•
	線性循環(huán)伏安法（CV）	•	•		恒電流充放電	•
	階梯循環(huán)伏安法（SCV）	•			恒電流充放電	•
	差分脈沖伏安法（DPV）	•		擴(kuò) 展測(cè) 量	盤(pán)環(huán)電測(cè)試 *	•
	常規(guī)脈沖伏安法（NPV）	•			數(shù)字記錄儀	•	•
	方波伏安法（SWV）	•			波形發(fā)生器	•	•
	交流伏安法（ACV）	•			圓盤(pán)電機(jī)控制	•	•
	常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）	•
	二次諧波交流伏安 (SHACV)	•

儀器配置：

1）儀器主機(jī)1臺(tái)

2）CorrTest測(cè)試與分析軟件1套

3）專(zhuān)用電解池（含鹽橋和排氣管）2套

4）鉑金電、參比電、工作電各2支

5）模擬電解池1個(gè)

6）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條

7）電電纜線2條

8）屏蔽箱（選配*）