UV-A紫外輻照計(jì)(單通道) UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。產(chǎn)品特點(diǎn):

詳細(xì)介紹

UV-A紫外輻照計(jì)(單通道)

UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

產(chǎn)品特點(diǎn):

* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正

* 數(shù)字液晶顯示，帶背光

* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換

* 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）

* 低電量提醒

* 自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)

* 有數(shù)字保持

* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

主要技術(shù)指標(biāo):

探頭（二選其一）：	UV-420nm 探頭	UV-365nm 探頭
波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng):	λ：(375～475)nm；λ_P＝420nm	λ：(320～400)nm；λ_P＝365nm
紫外帶外區(qū)雜光：	UV420：小于0.02%	UV365：小于0.02%
輻照度測(cè)量范圍：	(0.1～199.9×10³) μW/cm²
相對(duì)示值誤差：	±10%（相對(duì)與NIM標(biāo)準(zhǔn)）
角度響應(yīng)特性：	±5%(α ≤10°)
線性誤差：	±1%
短期不穩(wěn)定性：	±1%（開機(jī)30min后）
響應(yīng)時(shí)間：	1秒
使用環(huán)境：	溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH
尺寸和重量：	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源：	常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電整機(jī)功耗＜0.1VA