FAKRA,HSD連接器信號(hào)完整性測(cè)試 參考價(jià)：面議
伴隨著中國(guó)汽車業(yè)的飛速發(fā)展，車聯(lián)網(wǎng)越來越普及，汽車連接器，尤其是射頻連接器，天線、GPS、高清影像等與中控的連接器等應(yīng)用越來越廣泛。在車聯(lián)網(wǎng)領(lǐng)域，F(xiàn)AKRA、H...
5G大規(guī)模集成電路芯片失效分析 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量5G大規(guī)模集成電路芯片失效分析擁有業(yè)界專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備，對(duì)大規(guī)模集成電路可提供無損分析、電特性/電性定位分析、破壞性分析、微觀顯微分析等失效...
芯片競(jìng)爭(zhēng)力分析,NPI失效分析咨詢 通信 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量芯片競(jìng)爭(zhēng)力分析,NPI失效分析咨詢 通信在芯片競(jìng)爭(zhēng)力分析方面積累的豐富經(jīng)驗(yàn)，為系統(tǒng)設(shè)計(jì)商和設(shè)備提供商，提供量身定做的芯片整體解決方案。
芯片級(jí)試驗(yàn)驗(yàn)證,5G通信芯片檢測(cè) 參考價(jià)：面議
芯片級(jí)試驗(yàn)驗(yàn)證,5G通信芯片檢測(cè),包括對(duì)汽車芯片進(jìn)行電參數(shù)測(cè)試、功能驗(yàn)證、性能評(píng)估、結(jié)構(gòu)分析、環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證、可靠性評(píng)價(jià)等能力。廣電計(jì)量可提供芯片封裝完整性全面...
IGBT及第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量專家團(tuán)隊(duì)深入解讀IGBT測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，建立功率模塊可靠性驗(yàn)證技術(shù)能力，可以為功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供IGBT及第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測(cè)試驗(yàn)證報(bào)告。
功率器件失效根因分析,電子器件測(cè)試 參考價(jià)：面議
功率器件可靠性是器件廠商和應(yīng)用方除性能參數(shù)外最為關(guān)注的，也是特性參數(shù)測(cè)試無法評(píng)估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應(yīng)用可靠性的基礎(chǔ)。廣電計(jì)量功...
AQG324功率器件試驗(yàn)認(rèn)證,新能源器件測(cè)試 參考價(jià)：面議
功率模塊作為新能源汽?動(dòng)力、電源系統(tǒng)中的核?器件迎來了??發(fā)展期，?前中?端功率模塊市場(chǎng)仍處于外資壟斷的格局，國(guó)產(chǎn)功率模塊技術(shù)及性能還有待進(jìn)?步完善，并且由于汽...
AEC-Q104認(rèn)證測(cè)試,車規(guī)級(jí)認(rèn)證 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量AEC-Q104認(rèn)證測(cè)試,車規(guī)級(jí)認(rèn)證能力提供全套的測(cè)試認(rèn)證服務(wù)，通過使用各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)產(chǎn)品的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式或機(jī)理，確定其最終原...
功率循環(huán)測(cè)試,汽車功率器件封裝可靠性測(cè)試 參考價(jià)：面議
功率半導(dǎo)體器件是新能源、軌道交通、電動(dòng)汽車、工業(yè)應(yīng)用和家用電器等應(yīng)用的核心部件。功率循環(huán)作為功率器件耐久性試驗(yàn)中的一種，被工業(yè)界和學(xué)術(shù)界認(rèn)為是考核功率器件封裝可...
大規(guī)模集成電路失效分析,汽車電路測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量聚焦大規(guī)模集成電路失效分析,汽車電路測(cè)試技術(shù)，擁有業(yè)界專家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析設(shè)備，可為客戶提供完整的失效分析檢測(cè)服務(wù)，幫助制造商快速準(zhǔn)確地定位失效，找...
汽車內(nèi)外飾、線束端子類質(zhì)量評(píng)價(jià) 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量具備專業(yè)的汽車內(nèi)外飾、線束端子類質(zhì)量評(píng)價(jià)技術(shù)團(tuán)隊(duì)，幫助企業(yè)發(fā)現(xiàn)潛在質(zhì)量缺陷、控制產(chǎn)品質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。
電子工藝質(zhì)量評(píng)價(jià),汽車部件測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量電子工藝質(zhì)量評(píng)價(jià),汽車部件測(cè)試的專業(yè)團(tuán)隊(duì)具備10多年失效分析經(jīng)驗(yàn)支撐，可提供vw80000系列、ES90000系列等整車廠的汽車電子無鉛工藝質(zhì)量評(píng)價(jià)，幫...
車規(guī)功率模塊AQG324認(rèn)證服務(wù) 參考價(jià)：面議
AQG324是ECPE相關(guān)工作組基于LV324測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，為汽車電力電子轉(zhuǎn)換單元(PCUs)用功率模塊推出的認(rèn)證指南。其中包含QM模塊測(cè)試部分，QC模塊特性測(cè)試部...
車規(guī)級(jí)電子元器件AEC-Q認(rèn)證測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量出具具有公信力的車規(guī)級(jí)電子元器件AEC-Q認(rèn)證測(cè)試報(bào)告，是國(guó)內(nèi)一家已完成AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q104、AECQ...
X-ray無損檢測(cè),元器件失效根源分析 參考價(jià)：面議
X-ray無損檢測(cè),元器件失效根源分析是一種發(fā)展成熟的無損檢測(cè)方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA...
氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn) 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可開展氟油介質(zhì)的液態(tài)溫沖試驗(yàn)，轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過10s，溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、G...
錫須檢查,元器件及裝備失效分析 參考價(jià)：面議
錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量錫須檢查,元器件及裝備失效分...
離子清潔度測(cè)試,裝備失效分析檢驗(yàn) 參考價(jià)：面議
離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度，由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留，會(huì)影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見的離子污染導(dǎo)致的問題分別是表面腐蝕...
焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),元器件失效測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量擁完整的剪切力拉力試驗(yàn)設(shè)備、X射線透視（xray）試驗(yàn)設(shè)備，并擁有完整的染色測(cè)試方法經(jīng)驗(yàn)與豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),元器件失效測(cè)試...
電子元器件篩選,元件失效分析測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量可滿足各等級(jí)電子元器件篩選,元件失效分析測(cè)試需求，提供電子元器件測(cè)試、評(píng)估、質(zhì)量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時(shí)發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件，提...
電源模塊老煉與測(cè)試驗(yàn)證,失效分析機(jī)理檢驗(yàn) 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量電源模塊老煉與測(cè)試驗(yàn)證,失效分析機(jī)理檢驗(yàn)適應(yīng)于交直流電源、模塊電源、醫(yī)療電源等各類電源產(chǎn)品的測(cè)試。電源模塊老煉試驗(yàn)通過對(duì)電源模塊施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力，在短...
電纜可靠性測(cè)試,元器件失效分析 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量電纜可靠性測(cè)試,元器件失效分析服務(wù)在電線電纜測(cè)試與鑒定方面具有深厚的積累，可提供電線電纜的一站式測(cè)試與鑒定服務(wù)。
破壞性物理分析,DPA測(cè)試 元器件失效分析 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量破壞性物理分析,DPA測(cè)試 元器件失效分析提供覆蓋被動(dòng)元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù)，其中針對(duì)先進(jìn)半導(dǎo)體?藝，具備覆蓋...
裝備定壽延壽,元器件失效分析 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量裝備定壽延壽,元器件失效分析采用特定專業(yè)的檢測(cè)設(shè)備，采用加速試驗(yàn)、?品分析、歷史數(shù)據(jù)收集等方式方法，輔以產(chǎn)品失效分析，即時(shí)發(fā)現(xiàn)貯存失效機(jī)理，并基于科學(xué)的...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
3