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760CRT雙光束分光光度計(jì)儀電分析/上分/棱光

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參考價(jià): ￥ 68000

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更新時(shí)間：2022-07-07 15:40:49瀏覽次數(shù)：770次

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超微量分光光度計(jì)

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透反射測(cè)試儀

火焰光度計(jì)

近紅外谷物成分分析儀

可見分光光度計(jì)

紫外可見分光光度計(jì)

掃描型紫外可見分光光度計(jì)

雙光束紫外可見分光光度計(jì)

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廣州滬瑞明儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

760CRT雙光束分光光度計(jì)儀電分析/上分/棱光雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)；波長(zhǎng)范圍：190-900nm；波長(zhǎng)準(zhǔn)確度±0.3nm；光譜帶寬：0.08～5nm連續(xù)可調(diào)；雜散光≤0.08%T；測(cè)光方760CRT雙光束分光光度計(jì)儀電分析/上分/棱光式：具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描、定量分析、多波長(zhǎng)測(cè)定；附品牌電腦、噴墨打印機(jī)等附件

詳細(xì)介紹

760CRT 雙光束紫外可見分光光度計(jì)是軟件基于Windows 7平臺(tái)的全自動(dòng)分光光度計(jì)，界面友好、美觀，操作簡(jiǎn)單，通過打印機(jī)可打印出圖文合一的分析報(bào)告，并可將圖譜數(shù)據(jù)或測(cè)試數(shù)據(jù)傳送Execl進(jìn)行處理，可將圖譜貼至Word中發(fā)表。儀器具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描、定量分析、定波長(zhǎng)測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試等功能，適合用于醫(yī)藥、藥學(xué)、生物化學(xué)、環(huán)境保護(hù)、化學(xué)工業(yè)等實(shí)驗(yàn)室的日常分析和研究工作的需要。
760CRT雙光束分光光度計(jì)儀電分析/上分/棱光主要特點(diǎn)：
● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T 式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測(cè)光精度高，穩(wěn)定性能好。
● 微機(jī)控制,自動(dòng)記錄,打印機(jī)可在一張記錄紙上打印出含有光譜圖、測(cè)試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)的測(cè)試報(bào)告。
● 光源自動(dòng)轉(zhuǎn)換(可在294nm~364nm間任意設(shè)定）
● 功能強(qiáng)大的光譜處理能力。
● 采用長(zhǎng)壽命進(jìn)口光電倍增管,進(jìn)口氘燈和長(zhǎng)壽命鎢燈。
軟件特點(diǎn)：
● 信息存貯容量大，保存方便。
● 軟件提供四個(gè)圖譜通道臨時(shí)貯存圖譜，進(jìn)行圖譜疊加處理，對(duì)圖譜可進(jìn)行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運(yùn)算、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算。
● 圖譜的峰谷檢測(cè)、縮放輕松自如。
● 時(shí)間掃描可進(jìn)行動(dòng)力學(xué)研究。
● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進(jìn)行曲線擬合及異常點(diǎn)剔除、2λ的測(cè)定。
● 軟件提供了定波長(zhǎng)和多波長(zhǎng)測(cè)試，并可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行注釋，對(duì)同一樣品多用戶的測(cè)試提供了方便，多波長(zhǎng)測(cè)試則可進(jìn)行多達(dá)20個(gè)點(diǎn)波長(zhǎng)的測(cè)試。
● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當(dāng)前測(cè)試條件。
760CRT雙光束分光光度計(jì)儀電分析/上分/棱光技術(shù)指標(biāo)：
● 測(cè)光方式:雙光束
● 單色器:Czerny-Turner
● 焦距:200mm
● 光柵:全息閃耀，1600線/mm
● 光束分光系統(tǒng):斬波器
● 檢測(cè)器:進(jìn)口光電倍增管
● 光譜帶寬:0.08 ~ 5nm，間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
● 波長(zhǎng)設(shè)定:電腦輸入
● 波長(zhǎng)范圍:190nm ~ 900nm
● 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度:±0.3nm (內(nèi)裝自動(dòng)波長(zhǎng)校正裝置)
● 波長(zhǎng)重復(fù)性:≤ 0.2nm
● 分辨率: 優(yōu)于0.15nm
● 光度準(zhǔn)確度： ±0.3% (T) (以NBS930D測(cè)定)
● 光度重復(fù)性： ≤ 0.2% (T)
● 雜散光： ≤0.08% (T) (在220nm處，以Nal測(cè)定) (在360nm處，以NaNO2測(cè)定)
● 基線平直度： ≤±0.002 (A)
● 噪聲： ±0.3% ( (100 T%處) ±0.1% (0 T%處)
● 掃描速度：快、中、慢
● 基線漂移： ≤±0.004 A/30min
● 電源電壓： AC220V±22V 50Hz±1Hz
● 功率： 300 W