芯片三輪往復循環(huán)測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環(huán)測試。將芯片卡放在機器測試滾輪之間，將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個8N的力，經(jīng)過往復循環(huán)測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準*的測試。

詳細介紹

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一、芯片三輪往復循環(huán)測試儀介紹：

楊 UHICC主機外型美觀，性能穩(wěn)定，質(zhì)量可靠；根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環(huán)測試。

二、技術(shù)參數(shù)：

1、三輪測試儀型號：UHICC
2、測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3、測試標準參考: Mcd
4、CQM測試標準參考: P-22
5、測試方法參考: 10.3.22
6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.
8、測試廠家：優(yōu)鴻測控技術(shù)

測試方法：將芯片卡放在機器測試滾輪之間，將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個8N的力，經(jīng)過往復循環(huán)測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準*的測試。

關鍵詞：芯片試驗機