ICC芯片三輪檢測儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試，將芯片卡放在機(jī)器測試滾輪之間，將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個8N的力，經(jīng)過往復(fù)循環(huán)測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測試。

詳細(xì)介紹

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ICC芯片三輪檢測儀用途：

根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測試。

試驗說明：將芯片卡放在機(jī)器測試滾輪之間，將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個8N的力，經(jīng)過往復(fù)循環(huán)測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測試。

技術(shù)參數(shù)：
型號：UHICC
測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
測試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd
CQM測試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22
測試方法參考: 10.3.22
CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
電源: 110-220 V 50/60 Hz.
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17554. 3-2006

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關(guān)鍵詞：芯片試驗機(jī)