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目錄:北京海富達科技有限公司>>儀器儀表>>光學(xué)計>> JDG-S2數(shù)顯立式光學(xué)計報價
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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數(shù)顯立式光學(xué)計報價數(shù)顯立式光學(xué)計報價（被測件0～180mm，小示值0.1µm，載物臺是圓的 直徑是88mm） 型號:JDG-S2庫號：M405347
JDG-S2 數(shù)字式立式光學(xué)計被測件0～180mm，zui小示值0.1µm一、用途
數(shù)字式立式光學(xué)計JDG-S2是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
主要參數(shù)
被測件*大長度： 200mm
直接測量范圍： 10mm
zui小顯示值： 0.1μm
測量力： (2±0.2)N
示值變動性： 0.1μm
zui大不準(zhǔn)確度： ±0.25μm
讀數(shù)方式： 數(shù)字顯示
zui大測量誤差是： ±(0.5+L/100)μm ，L是被測長度,以mm計
儀器體積： 300×170×410mm
儀器重量：18 kgs
主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀量具和零件的外形尺寸作測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，過程控制及在線測量等方面，對被測件作微小位移測量，及對非金屬如：薄膜、紙張等的厚度測量。
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