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詳細摘要： FEI掃描電鏡Verios XHR SEM是 FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品.在半導體制造和材料科學應用中,它可在 1 至 30 kV 范...

詳細摘要： 日本電子臺式掃描電鏡JCM-7000 NeoScope™ 是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺式掃描電子顯微鏡, 標配Zeromag、Li...

詳細摘要： Thermo Scientific?Quattro環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM）是一款多功能，高性能儀器，配有場發(fā)射槍（FEG），具有出色的分辨率和射束電流穩(wěn)定...

詳細摘要： JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)...

詳細摘要： FEI掃描電鏡Q25 / Q45對于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應用的解決方案.在設計上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他...

詳細摘要： FEI掃描電鏡Prisma E材料科學掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的自動化相結(jié)合,為同類儀器提供最完整的解決方案.它非常適用于需要高分辨率,...

詳細摘要： FEI掃描電鏡Explorer 4分析器是一種掃描電子顯微鏡,設計用作質(zhì)量控制,生產(chǎn)過程優(yōu)化,故障分析和盈利能力的工業(yè)顯微鏡解決方案.

詳細摘要： FEI掃描電鏡Apreo革命性的復合透鏡設計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術,可產(chǎn)生的高分辨率和信號選擇.這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理...

詳細摘要： FEI 掃描電子顯微鏡Teneo可為金屬研究人員、學術和工業(yè)研究機構提供超高分辨率成像和通量分析性能.

詳細摘要： FEI掃描電子顯微鏡基于Windows XP的圖形用戶界面, 簡單易用。

詳細摘要： Inspect F50 場發(fā)射掃描電子顯微鏡系統(tǒng)操作和維護方便, 同時可安裝各種掃描電鏡的附件。

詳細摘要： 日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛(wèi)性外觀設計還特別吸引眼球。

詳細摘要： 日本電子熱場發(fā)射掃描電鏡JSM-7001F是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。

詳細摘要： 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7600F是兼顧冷場的高分辨率和熱場大束流為一體的熱場發(fā)射掃描電鏡。

詳細摘要： 掃描電子顯微鏡JSM-6701F是一臺場發(fā)射掃描電子顯微鏡，采用冷陰極場發(fā)射槍、高真空和精密的數(shù)字技術，可進行顯微結(jié)構的高分辨率、高質(zhì)量成像。

詳細摘要： 冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7500F是一款功能強大,操作簡便,節(jié)約能源的分析型場發(fā)射掃描電子顯微鏡。

詳細摘要： 透射電子顯微鏡JEM-1400是一款擁有成像和分析能力一體的高性能,高對比度,操作簡便的120KV透射電子顯微鏡。

詳細摘要： 桌面型掃描電子顯微鏡SEM表面分析儀IT100通過多點觸控技術和操作軟件，操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。

詳細摘要： 掃描電子顯微鏡JASM-6200(ASEM)是和在其上方設置的光學顯微鏡構成,能夠在大氣壓下觀察樣品。

詳細摘要： JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺在任何地方都可以使用的高性能可移動式掃描電子顯微鏡。