LW400JT芯片檢查顯微鏡適用于對不透明物體的進行顯微觀察。配置大移動范圍的機械式載物臺、落射照明器、內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，造型美觀，操作方便等特點，是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。適用于學校、科研、工廠等部門使用。

LW400JT芯片檢查顯微鏡特點：

1.  配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)，視場大而清晰。

2. 配置大移動范圍的載物臺，能快速和慢速移動。

3.粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶鎖緊和限位裝置，微動格值:2μm。

4. 6V 20W鹵素燈,亮度可調。

5. 三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進行透光攝影

主要技術參數(shù)：

1、三目鏡筒：傾斜30 °，瞳距55mm-75mm，視度±5°

2、目鏡：WF10X/18mm

3、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)

PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40

PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8

4、總放大倍數(shù)：50X-800X

5、載物臺：尺寸: 280mm×270mm,移動范圍: 204mm×204mm

6、調焦：粗微動同軸 升降范圍25mm ,微動格值0.002mm

7、光 源：柯勒照明 濾色片座 可調鹵素燈6V20W

8、正交偏光裝置