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聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線設(shè)備介紹TecnaiG2F20透射電子顯微鏡是一個(gè)多功能、多用戶環(huán)境的200kV場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡
Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡是一個(gè)多功能、多用戶環(huán)境的200kV場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡。該儀器配備了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明場(chǎng)、暗場(chǎng)像和髙分辨像，能進(jìn)行選區(qū)電子衍射，能進(jìn)行EDX能譜分析和髙分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EⅨ點(diǎn)、線掃描的可以進(jìn)行微區(qū)能譜分析。
FEI Tecnai G2 F20
Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡可進(jìn)行：（1）形貌分析，它獲得非晶材料的質(zhì)厚襯度像，多晶材料的衍射襯度像和單晶薄膜的相位襯度像（原子像），通過(guò)形貌分析可獲得樣品的形貌、粒徑、分散性等相關(guān)信息，冋時(shí)還可通過(guò)明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像對(duì)樣品進(jìn)行進(jìn)一步的表征；（2）結(jié)構(gòu)分析，觀察硏究材料結(jié)構(gòu)并對(duì)樣品進(jìn)行納米尺度的微分析，如：髙分辨晶格條紋像，選取電子衍射等。（3）成分分析：小到幾個(gè)納米尺度的微區(qū)或晶粒的成分分析，可對(duì)樣品進(jìn)行能譜點(diǎn)測(cè)、能譜線掃，獲得樣品中的元素在一個(gè)點(diǎn)、一條線的分布情況。Tecnai G2 F20透射電子顯微鏡廣泛應(yīng)用于髙分子材料、陶瓷、納米材料、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科硏。
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